spc統計制程的常用語(文件)

　

【正文】 備 ,輸入材料 ,方法 和環境以及使用輸出的顧客之集合。 ◎對過程採取措施 目的 :採取措施 ,避免偏離目標值太遠 ,保持過程的穩定性 ,確保過 程輸出的變差 在可接受的界限之內。 10 滿足要求 受控 不受控 可接受 1類 3類 不可接受 2類 4類 ◎ 兩者區別 ○ 局部措施 特殊原因 該過程操作直接有關人員的責任 ○ 採取系統措施 普通原因 責任在於管理人員 (技術 ,開發 ,生技等 ) ◎ 目標 :過程控制系統目標 ,是對影響過程的措 施作出經濟合理的決定 , 避免過度控制 與控制不足 ◎ 過程能力討論 :必需注意二個觀念 ○ 由造成變差的普通原因來確定 ○ 內外部顧客開心過程的輸出及與他 們的要求的關係如何。 13 每件產品的尺寸與別的都不同 范 圍 范 圍 范 圍 范 圍 但它們形成一個棋形 ﹐ 若穩定 ﹐ 可以描述為一個分布 范 圍 范 圍 范 圍 分布可以通過以下圖案來加以區分 范圍 范圍 范圍 位置 分布寬度 形狀 如果僅存在變差的普通原因 ﹐隨著時間的推移 ﹐ 過程的輸出形成一個穩定的分布并可預測 目標值線 預測 時間 范圍 時間 范圍 目標值線 預測 如果存在變差的特殊原因 ﹐ 隨著時間的推移 ﹐過程的輪出不穩定 圖 2 變差 ﹕ 普通及特殊原因 14 帶有不同水平的變差的能夠符合規范的過程 (所有的輸出都在規范之內 )。 Cp值可應用在雙邊規格和單邊規格 ,當制程已達到統計學之管制狀態時 ,計算 制程精密度 Cp才具意義。 B級 :此制程穩定 ,可以將規格允差縮小 ,改進至 A級 ,生產更高 品質的產品。 【例題】 某一射出成型廠 ,其產品厚度規格為 30177。 解 制程中常見 Cp值偏低的可能原因 : ,造成變異過大。 ???XXX例 A=260、 26 250、 2 245 B=260、 25 25 24 246 C=25 25 250、 24 247 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ?555555222222222222222????????????????????????????????????CBA???R=23 R=14 R=9 20250 ?X◎ Ca等級評定 LSL USL C A21)(x20 而 Ca值是衡量製程之平均值與規格之中心值一致性， １、 Ca 計算之公式 USL: 規格上限 LSL 規格下限 T 規格公差 注意：因為單邊規格無視規格中心值，所以不能計算 Ca值。 佔 線段有多少百分率。 求此三個月的 三月份切削狀況為二月份切削狀況為Ca mmmm mm X, 6 5 . 850。 。 Cpk計算之公式 因此 未知時 ,可用 = 來估計 若 Ca =0 則 Cpk = Cp 之意義 制程能力要達到規格的要求 ,必須要 Ca小而 Cpk值大才會有良好的效力 ,若 Ca很小 ,準確度好 ,但 cp值太低 ,差異太大 ,則會出現 ,面樣地 Cp值高。用較少值來計算較為安全 ﹑ 保險。 ◎ 過程控制解釋 識別過程變化性的任何證據或過程均值沒有處於恆定的水平 11超出控制限的點。 13非隨機圖形 各點與 R的距離 一般 2/3的描點落在控制限中間三分之一區域 ,1/3原點落 在其餘三分之二區域。 ● 計算控制限 ● 過程控制解釋（同Ｐ９） ● 過程能力解釋（同Ｐ１０） 估計過程標準偏差 計數型控制圖 圖RX ?~.3RDUC L R 4? RLCL 3 RAXUC L X 3~ ~~ ??2/? dR??LCL X 2~ ?33 計數型控制圖 單值和移動極差圖 ● 使用時機 量測費用很大（如破壞性試驗） 任何時刻點，輸出性質比較一致時（如此學溶液的 ＰＨ值）單值控制圖與 圖有些相同 ● 收集數據 （ＭＲ） ● 計算控制限 為移動平均極差， 是過程均值 ● 過程控制解釋（同 P9） 有超出控制限的點，這是存在特殊原因信號 ● 過程能力解釋（同 P10） RDU CL MR 4? RLCL 3 REXUCL X 2?? RELCL X 2?2/? dR??RX?RX34 計數型控制圖 計數型控制圖：不合格品率的Ｐ圖，不合格品數的 np圖 不合格數的ｃ圖，單位不合格數的ｕ圖 ?特點： O計數型數據只有兩個值 合格／不合格 成功／失敗 通過／不通過 O計數型數據存在於任何技術或行政管理 O計數型數據，通常不需要專業化的收集技術 O能夠區分特殊原因和普通原因變差 35 計數型控制圖 ?收集數據 O 子組容量：一般要求較大的容量 (50~200或更多） O分組頻率：根據產品的周期來確定（時，日） O子組數量：子組多，方能檢驗過程的穩定性 O計算每個子組的不合格品率 被檢項目數量：ｎ 發現不合格項目數量： np O選擇控制圖的坐標刻度 O將不合格品率描繪在控制圖上 ?計算控制限 O計算過程平均不合格品率 (P) O計算控制限 UCLp= LCLp O畫線並標注 水平實線 過程均值 (p) 水平虛線 控制限 :不合格品項目的百分數 P= np n P= n1p1+n2p2+…..n kpk n1+n2+……nk npp /)1(3 ?? nppp /)1(3 ???36 計數型控制圖 ：不合格品項目的百分數 ? 過程控制解釋 O超出控制限的點 超出上控制限 低於控制限下 O 鏈 連續７點位於均值的一側 連續７點上升或下降 O 明顯的非隨機圖形 2/3點將位於控制限中三分之一區城， 1/3點位於三分之二區 ?過程能力解釋 對於ｐ圖，控制圖上的每一點直接表明不符合顧客要求的不合格 品的百分數或比值。但