spc培訓-蔣云峰-預覽頁

　

【正文】 過過程來完成的。? 我國 60年代起就引進了 SPC，當時由于生產(chǎn)發(fā)展的水平以及政治環(huán)境的制約，未能在企業(yè)中打下基礎。(Roger? 實施 SPC的前提是過程穩(wěn)定且能力充足。? SPC應側(cè)重于對原因的控制和分析，而不是結(jié)果。? 美國著名質(zhì)量管理專家伯格 在日本強有力競爭的威脅下，從 80年代起，西方工業(yè)國家紛紛開展 “SPC復興 ”運動，美國從 1980年開始大力推行 SPC，經(jīng)過 15年的努力，才于 1995年在民用品的質(zhì)量方面和日本扯平。是將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的系統(tǒng)。=nXixsni標準偏差 (Std一種量度數(shù)據(jù)分布的分散程度之標準，用以衡量數(shù)據(jù)值偏離算術 平均值的程度。? 能 劃分區(qū)組者劃分區(qū)組，不能劃分區(qū)組者則隨即化。? 質(zhì)量管理的核心目的之一就是要分析、鑒別產(chǎn)品和過程波動的原因，將其控制在穩(wěn)定水平上從而保證過程輸出的穩(wěn)定。? 引起過程變異的原因紛繁復雜。?分布 可以有不同的形式 : 位置不同、寬度（散布）不同、形狀不同X X X XX X X28/171CECpanda LCD technology過程數(shù)據(jù)分布特征? 1）位置：均值，中位數(shù)，分布中心? 2）寬度：最大值與最小值之間的距離? 3）形狀：對稱， “鐘形 ”位置差異σ2σ1S1 S2u2u129/171CECpanda LCD technology過程的兩類變異原因? 過程數(shù)據(jù)波動的原因：? 1）普通原因? 隨時間推移過程數(shù)據(jù)分布狀態(tài)不變（統(tǒng)計意義上的顯著變化）? 特點：? 存在于任何過程? 其對過程的影響輕微且不確定? 不能利用現(xiàn)有技術控制t30/171CECpanda LCD technology過程的兩類變異原因? 過程數(shù)據(jù)波動的原因：? 2）特殊原因? 隨時間推移過程數(shù)據(jù)分布狀態(tài)變化? 特點：? 有時出現(xiàn)，有時消失? 對過程的影響大? 可利用現(xiàn)有技術控制? 質(zhì)量管理的主要任務之一就是區(qū)別普通原因和特殊原因，并對特殊原因進行改善和控制。? ：隨著時間推移，任一工序的分布中心會在 “規(guī)格中心 177。而不是根據(jù)我們希望它怎樣?控制上下限與規(guī)格上下限沒有聯(lián)系 !? 在前面例子中的上下限是通過使用平均極差數(shù)據(jù)估計標準差計算得來 .? 控制上下限的用途 .? 確定何時必要當場采取措施及何時采用 不自然的模式 .37/171CECpanda LCD technology原理 :? 正常原因造成的誤差滿足正態(tài)分布；? 正態(tài)分布的數(shù)據(jù)有 ％的概率在 Xbar177。休哈特認為基于 3Sigma限的控制圖可以把偶然波動和異常波動區(qū)分開。? 設置過寬：控制圖對異常的誤差不敏感，失去控制效果? 設置過緊：過度調(diào)節(jié)，降低工藝能力，增加成本控制圖的界限設置40/171CECpanda LCD technology? 控制界限和規(guī)格界限控制界限與規(guī)格界限的關系41/171CECpanda LCD technology控制界限與規(guī)格界限的關系：? 規(guī)格界限：代表顧客的要求，用于控制產(chǎn)品? 控制界限：對過程的要求，用于控制過程? 控制界限顯示現(xiàn)行過程的自然變化，與顧客的需求并沒有必然的聯(lián)系！? 規(guī)格界限不能用于控制界限！控制界限與規(guī)格界限的關系42/171CECpanda LCD technology預防與檢測43/171CECpanda LCD technology預防 與檢測傳統(tǒng)的質(zhì)量控制方法：檢驗模式（ 用 檢驗來控制產(chǎn)品的誤差）? 檢驗時間、檢驗成本? 檢驗時損失已經(jīng)造成? 不知道過程的狀態(tài)? 不易發(fā)現(xiàn)過程中的問題? 可能會過度調(diào)節(jié)44/171CECpanda LCD technology? 工藝規(guī)范規(guī)范 下限LSL目標值T規(guī)范 上限USL誤差允許范圍預防 與檢測45/171CECpanda LCD technology? 傳統(tǒng) 的生產(chǎn)與質(zhì)量控制流程生產(chǎn) 檢驗合格包裝 裝運出廠不合格報廢返工預防 與檢測46/171CECpanda LCD technology? 理想的生產(chǎn)流程（變事后控制為事前、事中控制）生產(chǎn) 包裝 裝運出廠SPC預防 與檢測47/171CECpanda LCD technology+++￥￥￥￥￥￥￥￥ 事前準備投事前準備投入入過程預防中過程預防中的投入的投入極低的廢品極低的廢品損失損失極低的抱怨極低的抱怨損失損失預防預防預防會不會預防會不會成本提高？成本提高？預防觀念預防觀念+++￥￥+￥￥￥￥￥￥￥￥較少的事前較少的事前投入投入極少的過程極少的過程預防投入預防投入廢品損失廢品損失抱怨的成倍抱怨的成倍損失損失改進的費用改進的費用檢測檢測48/171CECpanda LCD technology預 防 與 檢測? 過程永遠處于變異之中，過程數(shù)據(jù)會呈現(xiàn)一種特定的分布，根據(jù)過程數(shù)據(jù)隨時間變化的分布狀態(tài)（位置、形狀、寬度等）可以對過程做出判斷，通過判斷過程變異原因的類別，可以確定是否對其進行改善和控制。 1975 1980 1985故障率JapanFordChryslerGen.一個過程開始實施控制圖時，幾乎總不會恰巧處于受控狀態(tài)，即總會存在異常波動。? 分析用控制圖主要做到：調(diào)整過程，使過程達到受控；使過程能力指數(shù) Cp或 Cpk能達到顧客要求。一般為每小時至每班 1次，分析階段頻率要高，控制階段頻率可低子組大小的確定：一般而言 25組以上的子組可以滿足檢驗過程穩(wěn)定性的要求不同的計量值數(shù)據(jù)控制圖，有不同的控制界限計算公式，但均是按 3σ原理計算而來71/171CECpanda LCD technology搜集數(shù)據(jù)的合理子組原則? 在抽取樣本時要使組內(nèi)波動僅僅由正常原因引起，而組間波動主要由異常原因引起。σR/d2^σR/d2^84/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? ZUSL為上限過程能力 ,定義為規(guī)格上限與平均值之差除以過程固有偏差的 σ范圍 .? USL=規(guī)格上界限? Xbar=所有樣本的本均值 R=子組內(nèi)數(shù)據(jù)極差的平均值 d2=常數(shù) ,如下表 ,n為子組樣本容量=過程固有偏差即 ZLSL=3CPL86/171CECpanda LCD technology計量值數(shù)據(jù)控制圖過程能力分析? 過程能力的度量指數(shù)? ZMin過程能力 ,是 ZUSL和 ZLSL中的最小值。σS^n Xii=1n－X=＝－－＝＝－－－－－－－－－R=XmaxXK Xjj=1K＝X=_∑ 3 點中有 2 點，距離中心線超過 2 個標準差（在中心線的同一側(cè)）? 檢驗出下列點不合格 : 3, 7, 11, 27, 28XbarR圖98/171CECpanda LCD technology? 結(jié)論：過程存在變異的異常原因，過程處于非受控狀態(tài)，須進行分析和改善? 計算過程能力：? 因為該過程處于非受控狀態(tài)，故無法計算過程能力XbarR圖99/171CECpanda LCD technology判異細則：? 1點超控制限度? 連續(xù) 9點在目標值的一側(cè)? 連續(xù) 6點上升或下降? 連續(xù) 14點交替上下? 連續(xù) 3點中有 2點在同一側(cè) 2sigma線外? 連續(xù) 5點中有 4點在同一側(cè) 1sigma線外? 連續(xù) 15在 1sigma線內(nèi)? 連續(xù) 8中無一點在 1sigma線內(nèi)控制圖判異準則判異原則：?點出界就判異。100/171CECpanda LCD technology檢驗 1 和 2? 檢驗 1 – 基本檢驗 . ? 由流程中的一個大的改變引起 .限內(nèi)高度變動? 主要的特殊偏差原因之一? 檢驗 6? 另一個檢驗偏移的規(guī)則? 檢驗 相互關聯(lián)并顯示出某個特殊原因引起的流程高度變化狀態(tài)UCLLCLAABCCB檢驗 5. 連續(xù)三個點有兩個落在中心線同一側(cè)的 B區(qū)以外x xx UCLLCLAABCCB檢驗 6. 連續(xù)五個點中有四個落在中心線同一側(cè) C區(qū)以外xx106/171CECpanda LCD technology檢驗 5 和 6 – 展示 X杠? ? ?UCLLCL? ? ?規(guī)則 5規(guī)則 6檢驗 5. 連續(xù)三個點有兩個落在中心線同一側(cè)的 B區(qū)以外檢驗 6. 連續(xù)五個點中有四個在中心線同一側(cè) C區(qū)以外107/171CECpanda LCD technology檢驗 7 和 8? 檢驗 7 – 白色空間檢驗? 當組內(nèi)偏差大于組間偏差時發(fā)生,或? 陳舊的或算錯的控制限? 檢驗 8 – 平均值波動? 有混合現(xiàn)象? 過度控制? 同一個圖上有兩個流程在進行UCLLCLAABCCB檢驗 7. 連續(xù)十五個點在區(qū)間 C中(中線上下都有 )xUCLLCLAABCCB檢驗 8. 連續(xù)八個點在中線兩邊但不在區(qū)間 C內(nèi)x?108/171CECpanda LCD technology檢驗 7 和 8 – 展示 X杠? ? ?UCLLCL? ? ?規(guī)則 7 規(guī)則 8檢驗 7. 連續(xù)十五個點在區(qū)間 C中(中線上下都有 ) 檢驗 8. 連續(xù)八個點在中線兩邊但不在區(qū)間 C內(nèi)109/171CECpanda LCD technology判穩(wěn)細則： 在點子隨機排列的情況下，符合下列條件之一判穩(wěn)：? 連續(xù) 25個點，界外點數(shù)＝ 0，? 連續(xù) 35個點，界外點數(shù) ≦ 1，? 連續(xù) 100個點，界外點數(shù) ≦ 2。但是對于超出界限的點，仍然需要仔細分析具體的原因！110/171CECpanda LCD technology控制圖的解釋? 控制圖是探測特殊原因偏差的有力工具 . ? 如果發(fā)現(xiàn)了特殊原因 :1. 如果失控條件是一個趨勢的一部分 ,把該趨勢的起點和終點都標出來2. 對流程進行分析以確定引起失控條件 (OOCK Sjj=1K－S=∑? 抽取樣本：抽取 25組，樣本數(shù)據(jù)如下表118/171CECpanda LCD technologyXbarS圖119/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算控制界限? UCLx=X+A3S=+=? LCLx=XA3S==? CLx=X=? UCLs=B4S==? LCLs=B3S==? CLs=S=? n=子組容量? Xi=子組內(nèi)每個測量數(shù)據(jù)? X=子組平均值? K=子組數(shù)? Xj=每個子組的均值? Sj=每個子組的標準差? A3， B3， B4均為常數(shù)∑CPK=Min[CPU， CPL]==()==()==()==122/171CECpanda LCD technologyXbarS圖? 計算過程能力? ZUSL=3CPU==? ZLSL=3CPL==? ZMin=Min[ZUSL， ZLSL]=? 計算過程合格率? 計算過程不合格率? 以 ZUSL=， PUSL=? 以 ZLSL=， PLSL=? 過程總不合格率 P=PUSL+PLSL=3178PPM? 計算過程合格率 =1P=直方圖 是一種表示一組數(shù)據(jù)分布情況的條形圖，表示不同數(shù)據(jù)值出現(xiàn)的頻數(shù)。 (b) 孤島形常見的直方圖形態(tài)137/171CECpanda LCD technologyc、 雙峰型 (Doublepeaked) 用兩臺有一定差別的設備或兩種原料所生產(chǎn)的產(chǎn)品混在一起，或是混合兩個人加工的產(chǎn)品。 (e) 偏向型常見的直方圖形態(tài)139/171CECpanda LCD technologyf、 陡壁型 (Truncated) 一般在產(chǎn)品質(zhì)量較差時為得到符合標準的產(chǎn)品，需要進行全數(shù)檢驗來剔除不合格品，當用剔除了不合格品后的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時容易產(chǎn)生這種類型。? 對于數(shù)據(jù)非正態(tài)分布的過程能力分析有兩種方法? 一、將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后再用正態(tài)數(shù)據(jù)分析法進行分析計算? 二、用韋伯分布數(shù)據(jù)分析法? 以上均需要借助于 Minitab進行152/171CECpanda LCD technologyMinitab介紹? 它是數(shù)據(jù)分析與處理的軟件 ,如果你要做 6Sigma項目或 SPC的話 , 裝一個 Minitab是很有用的 ,它可很簡單的做出各類控制圖 \直方圖 ,根據(jù)樣本數(shù)