spc培訓教材(ppt 88頁)-預覽頁

　

【正文】 施 ,否則它們將繼續不可預測的影響過程的輸出。 達到統計控制狀態？ 確定能力 計劃 實施 計劃 實施 措施 研究 措施 研究 計劃 實施 改進過程 措施 研究 改進過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數據并畫在圖上 控制 根據過程數據計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 管制圖類型 計量型數據 XR 均值和極差圖 計數型數據 P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標準差圖 nP chart 不良數管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點數管制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點數管制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數據嗎？ 否 關心的是不合格品率？ 否 關心的是不合格數嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質上是否是均勻或不能按子組取樣 —例如：化學槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統已經過評價并且是適用的。 b 確保檢測設備或量具本身的準確性和精密性。 11 選擇子組大小，頻率和數據 111 子組大小 ：一般為 5件連續的產品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。 接上頁 113 子組數： 子組越多，變差越有機會出現。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 13 計算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數，決定于子組樣本容量。 ? 各控制限畫成虛線。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 8 的特殊原因。 a2 測量系統的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 注 2： 標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸 到鏈的開始點，分析時應考慮開始出現變化趨勢或變化的時間 。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數據）。 注： 如果存在幾個過程流，應分別識別和追蹤。 b 由于出現特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應從 X圖中去掉。而是排除受已知的特殊原因影響的點。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現變化趨勢或變化的時間。 c3 數據已經過編輯 (極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點落在離 R很近之處（對于 25子組， 如 果有 40%的點落在控制限的 1/3區域），則應對下列情況的一 種或更多進行調查： d1 控制限或描點計算錯描錯 。 b 應及時分析問題，例如：出現一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。方法如下： b 1 估計過程的標準偏差（用 σ? 表示），用 現有的 子組容 量計算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 b –2 按照 新的 子組容量查表得到系數 d2 、 D D4 和 A2，計算新 的極差和控制限： R新 = σ? d2 UCLR= D4 R新 LCLR = D3 R新 UCLX = X+ A2 R新 LCLX = X– A2 R新 將這些控制限畫在控制圖上。 421 對于單邊容差，計算： Z=(USLX) / σ? 或 Z=(XLSL) / σ? （選擇合適的確一個） 注：式中的 SL=規范界限， X=測量的過程均值， σ? =估計的過程標準偏差 。 UCL–X 3 σ X – LCL 3 σ ? ? ? ? 423 估計超出規范的百分比 ：（ PZ ） a 對于單邊容差，直接使用 Z值查標準正態分布表，換算成 百分比。 ≤Cpk≤,說明制程能力正常 。 n – 1 式中： Xi， X； N 分別代表單值、均值和樣本容量。 13 過程控制的分析（同 XR） 14 過程能力的分析（同 XR） 估計過程標準差： σ = S / C4= σ S / C4 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 B3 * * * * A3 ? ? 式中： S 是樣本標準差的均值（標準差受控時的）， C4為隨樣本容量變化的常數。 7 c 刻度應與量具一致。 6 32 畫一個窄的垂直框標注超過極差控制限的子組。 12 53 描點 13 操作者將每個單值的點標在中位數圖上。 單值和移動極差圖（ X—MR） 用途 測量費用很大時，（例如破壞性實驗）或是當任何時刻點的輸出 性質比較一致時（例如：化學溶液的 PH值）。 b 單值的最大值與最小值之差的 2倍 。 式中： R 為移動極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數。 分組頻率： 根據實際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 選擇控制圖的坐標刻度 8113 選擇控制圖的坐標刻度 一般不良品率為縱坐標 ， 子組別 （ 小時 /天 ） 作為橫坐標 ,縱坐標的刻度應從 0到初步研究數據讀讀數中最大的不合格率值的 到 2倍 。 在實際運用中 ， 當各組容量不超過其平均容量 25%時 ， 可用平均樣本容量 n 代替 n 來計算控制限 USL； LSL。 C、 按上式分別計算樣本容量為 n 和 n 時的點的控制限 . UCL,LCL = P 177。 ） 813 過程控制用控制圖解釋： 8131 分析數據點，找出不穩定的證據（一個受控的 P管制圖 中，落在均值兩側的點的數量將幾乎相等） 。 b 低于控制限之下的點，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。 81313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；子組內數據間有 規律的關系等 。并在備 注欄中詳細記錄。 822 數據的收集（基本和 p 圖相同） 8221 受檢驗的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個子組 內都有幾個不良品并在。 824 過程控制解釋和過程能力解釋 同 p管制圖 83 不合格（缺陷）數的 c 圖 831 采用時機 C圖用來測量一個檢驗批內的不合格（的缺陷）的數量， C圖 要求樣本的容量恒定或受檢驗材料的數量恒定，主要用于以下兩 類檢驗： 8311 不合格分布在連續的產品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻 璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點），以及可以用不合格的 平均比率表示的地方（如 100平方米上的缺陷） 8312 在單個的產品檢驗中可能發現不同原因造成的不合格。 3 C 834 過程控制解釋（同 P管制圖） 835 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數的平均值 c. 84 單位不合格（缺陷）數的 u圖 841 使用的時機 u圖用來測量具有不