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ts16949-spc統計過程控制培訓(ppt110頁)-文庫吧在線文庫

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【正文】 KX計算過程平均值K代表子組數X代表每個子組的均值70R KRj 計算極差平均值K 代表子組數R 代表每個子組的極差71常數計算均值圖控制限UCL = X + A RX 2LCL = X – A RX 2均值圖控制上限均值圖控制下限72計算極差圖控制限極差圖控制上限極差圖控制下限常數常數LCL = D R3RUCL = D RR 473XR圖常數表*對于樣本容量小于 7的情況 ,LCLR可能技術上為一個負值 .在這種情況下沒有下控制限 ,這意味著對于一個樣本數為 6的子組 ,6個 “ 同樣的 ”測量結果是可能成立的。2σ%177。 54“ ?” 及 “ ?” 風險定義? 根據控制限作出的判斷也可能產生錯誤。2σ%%μ177。LSL） / σ查 SIGMA水平表，得到下限缺陷率總缺陷率 = 下限缺陷率 + 上限缺陷率查 SIGMA水平計算表得到 Z值查 SIGMA水平表，得到上限缺陷率雙邊規范限的 Z值計算法USL μσ USLZ規格上限的工序西格瑪值平均值標準差37LSL μσ LSLZ規格下限的工序西格瑪值平均值標準差38從上述公式可看出 ,工序西格瑪值是平均值與規格上下限之間包括的標準差的數量 ,表示如下圖 :LSL USL1σ 1σ 1σμ39通過計算出的 Z值 ,查正態分佈表 ,即得到對應的缺陷概率 .練習某公司加工了一批零件 ,其規格為 50+/ mm,某小組測量了 50 個部品，計算出該尺寸的平均值和標準差 X= ， S= ，分別計算 ZUSL ， ZLSL ，並求出相應的缺陷概率。 X∑ 這兩組的平均數都是 70，但 A組的標準差為， B組的標準差為，說明 A組學生之間的差距要比B組學生之間的差距大得多。區分變差的特殊原因和普通原因，作為採取局部措施或對系統採取措施的指南。它是一種預防性方法；強調全員參與；強調整個過程，重點在於 P（ Process） ,即過程。B、 7? 特點4.總體標準差用 σ 表示樣本標準差用 S 表示基本統計術語17基本統計術語? 例如， A、 B兩組各有 6位學生參加同一次語文測驗， A組的分數為 9 8 76 5 45， B組的分數為 7 7 76 6 67。i=1N（ Xi μ ）N223S與橫坐標所圍成區域的面積為 1； 33規格範圍合格概率缺陷概率+/1%+/2%+/3%+/4%+/6） / σZLSL=（ 181。%%μ177。? 控制限的寬度就是根據這一原理定為 ?3?。3σ%177。58 控制圖的形成? 控制用控制圖：經過上述分析證實過程穩定並能滿足品質要求，此時的控制圖可以用於現場對日常的過程品質進行控制。CPK製程能力指數94數據分析? Cp、 Ca、 Cpk95A: 每件産品的尺寸與別的都不同數據的分布B:但它們形成一個模型，若穩定，可以描述爲一個分佈 C:數據會有不同的分布型態，正態分布為鐘型96CP Capability of Precision精確度：是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值，記爲 Cp。x偏移係數 K M作業員可能看錯規格或未照作業標準操作 ,應加強訓練 ,?? ??? ??? ?????????? ???? ????????????104僅給出規格上限 Su 各種規格型態下的 Cpkμf（ x）SLσxμ SLμf（ x）SUσx僅給出規格下限 SL ? Su μ單邊公差時：由於沒有規格中心值，故 Ca =N/A，故定義 Cpk=Cp應采取緊急措施 .全面檢討可能影響因素 .必要時停產 .（實績）（實績）（實績）X X XA級 B級 C級D級規格中心值規格上限（下限）% 25% 50% 100%等級之解說103讓我們回憶下 Cp與 Ca 的關係不精密 = * 100%X MT/2 * 100%即偏移系數 ( k ) = Ca101偏移係數Su= 規格上限 SL= 規格下限 T= 規格允差 . ， T =Su SLSu SLT =Su – SL=TuTLK偏移量 =_Cp=T/6δ=規格公差 /6*標準差規格公差 =UCLLCL=規格上線規格下線98精密度評價99CaCapability of Accuracy準確度 : 代表製程平均值偏離規格中心值之程度。CPK=CP(1 上規格界限： USL；下規格界限： LSL；。3σ%177。虛發警報，由於徒勞地查找原

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