過程控制與統計技術(new)(編輯修改稿)

　

【文章內容簡介】 7 20 8 21 9 22 10 23 11 24 12 25 13 測定值組號 組號測定值[應用舉例 ] 某產品拋光尺寸要求為 ，公差要求是 177。 ，采用 xR控制圖對拋光過程進行質量控制。 對每批產品抽取 n=5的樣品測量其拋光尺寸，共取 25組樣品，記錄如下： 計算統計量：分別計算每一組數據的平均值 x，極差 R以及 25組數據平均值的總平均值 x 和極差 R. 554321 xxxxxx ?????)()( ii xM inxM a xR ??25251??? iixx25251??? iiRR均值 極差 均值 極差1 2 3 4 5 x R 1 2 3 4 5 x R1 14 2 15 3 16 4 17 5 18 6 19 7 20 8 21 9 22 10 23 11 24 12 25 13 測定值組號 組號測定值計算控制界限：分別計算 R圖和 x(xbar) 圖的控制界限。 作控制圖并打點。 判斷取樣過程是否處于穩定受控狀態。 根據異常判斷準則，可判斷取樣過程處于穩定受控狀態，即工作正常。 判斷過程能力是否達到基本要求，即 Cp或 Cpk≥1。 x=≈ R= 拋光尺寸要求是： M= 公差為： 177。 M=x= s=R/d2= Cp=(TUTL)/(6s)=。 R圖控制界限： CLR=R= UCLR=D4*R== LCLR=D3*R=—— (不考慮） X圖控制界限： CLxbar=x= UCLxbar=x+A2*R=+= LCLxbar=xA2*R= = (A2， D3， ， D4是根據 n值的不同，查控制系數表得到 ) 01 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25R圖1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25xbar圖（三）、 Me（中位數）控制圖： 樣本分布的中位數較平均值的計算更為簡便，但一般中位數的分散程度要比平均值大，所以控制界限的幅度要寬一些，因而檢出力要弱一些。由于 Me圖應用簡便，所以在生產現場常以 Me圖取代 x圖。 R圖控制界限： Me圖控制界限： (m3， A2， D3， ， D4是根據 n值的不同，查控制系數表得到 ) RCLR ?RDUC L R 4? RDLCL R 3?xCL ~?RAmxU C L 23~ ?? RAmxL C L 23~ ??（四）、 x（單值）控制圖： 把逐個測定值一個一個地在控制圖上打點，對過程實施質量控制。 1)、單值控制圖適用條件： a、如果過程質量非常均勻連續取值時質量特性沒有變化； b、數據的取得需要很長的時間； c、取值費用昂貴； d、對數據分組做 xbar— R圖在時間上不適宜。 2)、單值控制圖的特點： a、由于 x圖是將逐個測定值立即在控制圖上打點，能夠迅速對生產過程進行了解并采取措施。 b、但單值控制圖檢出力較弱，同時當質量數據的分布偏離正態分布時，會使犯錯誤的概率顯著增大。 RExRAnxU C L x 22 ????RExLC L x 2??xCLx ?x控制圖的作法有兩種情況： 1）在數據可以分組的場合，除了做 x控制圖外，當數據湊夠一組時同時作 xbar— R控制圖或 Me— R控制圖； 2）在數據不能分組的場合，常與移動極差（ Rs）控制圖聯合應用，記為 x— Rs控制圖。 x— Rs圖常用于：在工藝參數（溫度、時間、壓力等）情況下，每次只能得到一個測定值；或樣品在測定或實驗后不能再次使用；或是測量需要高額費用；或是需要盡早發現異常；或過程中取多個測定值無意義的情況下。 某鋼鐵廠在煉鋼過程中，對于某種化學成份需要進行控制，現從現場測得生產穩定時的 25組數據，請制定 XRs控制圖并描點和判斷是否延長控制線對其進行控制。 組號 測定值 移動極差 組號 測定值 移動極差1 67 14 2 15 3 16 4 17 5 18 6 19 7 67 20 8 21 9 22 10 23 11 24 12 25 13 合計 CL= UCL= LCL= CL= UCL= LCL= Rs控制圖 X控制圖 Rs控制圖01 3 5 7 911 13 15 17 19 21 23 25X 控制圖1 3 5 7 911 13 15 17 19 21 23 25不能延長做控制圖，因為連續 16個點子中相鄰點子上下交替。 （五）、 p控制圖（不合格品率控制圖）和 pn控制圖（不合格品數控制圖）。 p控制圖和 pn控制圖都是用來控制批質量水平的控制工具。當樣本大小保持不變時， p控制圖和 pn控制圖都可以用；但當樣本大小是變化的場合，只能用 p控制圖而不能用 pn控制圖。 p控制圖和 pn控制圖都是用來控制批質量水平的工具，為了能更好、更有效地進行控制，在把產品通過質量檢驗而區分為合格與不合格品的場合最好能將不合格的原因分類、統計并詳細記錄，以便將來對過程異常分析時，作為查找原因和采取措施的重要參考資料。 中心線及上、下控制界限 : 控制圖名稱 中心線 上、下控制界限不合格品率控制圖（ p 圖）不合格品數控制圖（ np 圖）Pnpnppp)1(3??)1(3 pnpnp ??P控制圖與 np控制圖應用舉例 OCP車間直角棱鏡拋光工序，經檢驗批產品不情況如下： 因為樣本 n=32，大小相等，所以可以用 p控制圖或 np控制圖進行分析。 樣本號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10送檢數量 32 32 32 32 32 32 32 32 32 32不合格數 6 2 3 1 6 3 7 1 1 5不合格率 % % % % % % % % % %樣本號 11 12 13 14 15 16 17 1