spc基本原理(編輯修改稿)

　

【文章內容簡介】 y T220。V Rheinland Academy Beijing 步驟 2：建立圖的原始記錄 步驟 3：計算每組數據 ， Ri （ i=1,2…… ， K） （ j=1,2…… ， n） Ri= Ximax Ximin 步驟 4：選擇圖的縱坐標刻度。 步驟 5：計算 及 步驟 6：計算 R控制限并作圖 CL= ， UCL=D4 ， LCL=D3 步驟 7：將預備數據點繪在圖中，并對狀態判斷。 若穩，測進行步驟 8；若不穩，則查原因，定措施 改進，再次轉入步驟 1，收集預備數據，重新計算 控制限，作圖，判斷，一直到 R圖型穩態。 nxXnjiji??? 1RiXRR169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 步驟 8：計算 圖控制限，作圖、點圖。 判穩：若穩則進入步驟 9； 若不穩，查原因，定措施，改進后，返回步驟 1， 重新循環。 步驟 9：計算 Cp，檢驗過程是否滿足技術要求？ 若滿足要求，進入步驟 10； 若不滿足要求，則調整過程，直至 Cp滿足要求為止。 步驟 10：延長 圖控制線，作控制用控制圖，進入日常統 計過程控制用。 上述步驟 1~9為分析用控制圖。 上述步驟 10為控制用控制圖。 XRX ?RAXLCLRAXUCLXCL 22 , ?????169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 兩種控制圖應用示意說明 ?初期的二十五點 計算時有些超出 控制界限，此時 須尋找原因。 ?連續二十五點在控 制界限內，表示制 程基本上已穩定， 控制界限可以延用 ?有點超出控制界限，表示此時狀態已被改變，此時要追查原因，必要時必須重新收集數據，重新考慮穩定狀態 解析用 穩定 控制用 再調整 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 5. 兩種控制圖 分析用控制圖 控制用控制圖 應用時機 了解過程 當過程出現變化時 過程現場 計算控制界限 需 無 收集樣本 至少 25子組， 100個數據 每 1個子組樣本 分析時間 25子組以后 每 1個子組以后 目 的 了解狀態是否受控； 能力能否滿足 保持控制狀態 持續改進 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 八、案例 :見附件 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 七、各類控制圖 不合格數 C 單位不合格數 U 不合格品率 np 不合格品率 P 計 數 值 控 制 圖 單值 —移動極差 XRS 中位數 —極差 MeR 均值 —標準差 LCL UCL CL 均值 —極差 計 量 值 控 制 圖 圖名稱 圖代號 類型 表 2 常規控制圖表 RX?SXRSeMRXSpdu RAX 2?RD4 S3SB4 RAmeM 23?R4 RX ?SD4 ni ppp )1(3 ?? ???????? ? nddd 1nuu 3? cC 3? RAX 2?RD3 SSB3 RAmeM 23?RD3 RX ?S3 ni ppp )(3? ???????? ? nddd 1nuu 3? cC 3?169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing n 2 3 4 5 6 7 8 9 A2 A3 M3 D3 0 0 0 0 0 D4 B3 0 0 0 0 B4 d2 表 3 計量控制圖系數表 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 不合格品率圖 P圖 ?子組容量：用于計數型數據的控制圖一般要求較大的子組容量 (例如 50~200)以便檢驗出性能的變化，一般希望每組內能包括幾個不合格品，但樣本數如果太大也會有不利之處。 ?分組頻率：應根據產品的周期確定分組的頻率以便幫助分析和糾正發現的問題。時間間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 ?子組數量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩定性 Ppn 5~1?169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 計算每個子組內不合格品率 ?記錄每個子組內的下列值 ?被檢項目的數量 ─n ?發現的不合格項目的數量 ─np ?通過這些數據計算不合格品率 nnpndp ??169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 將不合格品率描繪在控制圖上 ?描繪每個子組的 p值，將這些點聯成線通常有助于發現異常圖形和趨勢 ?當點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確 ?記錄過程的變化或者可能影響過程的異常狀況，當這些情況被發現時，將它們記錄在控制圖的“備注”部份 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing ipippkkkkknpppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnp)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線P圖平均不合格率及控制限 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 控制 圖判 異準則 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 169。 copy right reserved by T220。V Rheinland Academy Beijing 169。 copy right reserved by T220。V