spc應用技術1(編輯修改稿)

　

【文章內容簡介】 0 /1 3 P M 04 :3 6: 33 10 10. 02 10. 03 10. 01 10 10. 01 10. 0114 200 1/ 10 /1 4 P M 04 :3 6: 44 8 7 10 10. 02 10. 01 10. 00 1015 200 1/ 10 /1 5 P M 05 :0 2: 15 10 10. 01 10. 01 10 9 10. 00 10 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達企業管理咨詢有限公司 （四） XRm（個別值與移動全距管制圖） ： 以不分組的方式描點作管制圖，要求每次或每組的樣本數為 1。在計量值中，當每次取樣數為 1時，不能用以上三種管制圖。 使用場合 ： ①一次只能收集到一個樣本數據，如損耗率； ②制程的品質極為均勻，不需要多取樣本，如液體濃度、 PH值等； ③取得測定值既費時成本又高，如復雜的化學分析及破壞性試驗等。 ： ① XRm在檢查過程變化時不如 XbarR圖敏感 ② XRm圖不能區分過程的零件間重復性，因此在很多情況下最好還是使用 常規的了組樣本容量較小（ 24）的 XbarR圖。 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES ： ①移動全距的計算： Ri=|XiX（ Im） | ； 當 Im〈 1時 ， Ri=|SLXi| 移動位置值 m：指組距 Ri要用當前一個數據減去前面第 n個位置的數據。通常是由產品的相關性來定的。 如果是前后點有相關性， 則 m=1； 如果是前后兩點間有相關性，則 m=2。 ②計算各中心線及管制上、下限 X = 個別值管制圖： XUCL=X+E2Rm XCL =X Rm= XLCL=XE2Rm 移動全距管制圖： RmUCL=D4RM RmCL =Rm RmLCL=D3RM 〈例 5〉 ： 同 XbarR分析方法。 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 某電子廠對每批芯片研磨制程進行管制 , 其厚度規格化為 3 + 0 。 1u ，希望建立管制圖，以在量產時對制程上的厚度進行有效的管制。因同一批差異很小，所以每一批次取一個樣量測記錄如下：序號 檢驗時間 量測值 移動全距1 200 1/ 11 /1 PM 03 : 23 : 27 5 52 200 1/ 11 /2 PM 03 : 23 : 56 4 93 200 1/ 11 /3 PM 03 : 24 : 03 1 34 200 1/ 11 /4 PM 03 : 24 : 09 7 45 200 1/ 11 /5 PM 03 : 24 : 16 7 06 200 1/ 11 /6 PM 03 : 24 : 21 5 27 200 1/ 11 /7 PM 03 : 24 : 26 9 48 200 1/ 11 /8 PM 03 : 24 : 33 8 19 200 1/ 11 /9 PM 03 : 24 : 40 1 710 200 1/ 11 /1 0 P M 03 : 24 : 56 6 511 200 1/ 11 /1 1 P M 03 : 25 : 00 2 412 200 1/ 11 /1 2 P M 03 : 25 : 09 8 613 200 1/ 11 /1 3 P M 03 : 25 : 12 6 214 200 1/ 11 /1 4 P M 03 : 25 : 20 7 115 200 1/ 11 /1 5 P M 03 : 25 : 26 2 5 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 計數值型控制圖 （五） Pchart 不良率管制圖 ： 利用管制圖的原理對產品不良率進行管制，是 SPC計數值型最常用最主要的分析圖之一。 特點 ： ①可以掌握某產品或類別或生產線等取樣母體的不良率狀況，了解本系統在正常情況下的不良狀況，有助于做成本分析； ②對于突發事件（特殊原因）影響程度及時了解； ③便于預測下一階段的不良率。 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 一般應用在如下場合： 單個產品在某一工序的不良率 單個產品在某幾工序的不良率 多個產品在某同一工序的不良率 多個產品在某同幾工序的不良率 單個客戶某一產品的不良率 單個客戶部分產品的不良率 單個客戶全部產品的不良率 多個客戶同一產品的不良率 關鍵原料各供貨商所供產品的不良率 關鍵原料部分供貨商所供產品的不良率 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 同一產品在不同部門或生產線的不良率 同一部門或生產線生產不同產品的不良率 不同班次所生產產品不良率 某些班次所生產產品不良率 不同檢驗人員所檢驗的不良率 某些檢驗人員所檢驗的不良率 不同時期限的不良率 不同機臺的生產的不良率 等等 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES ： ①計算管制中心線 CL=Pbar=不良數之和 /檢驗數之和 ②計算管制上、下線 a. 各組檢驗數相同，有兩種算法： 第一種（原理法）： UCL=Pbar+3σ LCL=Pbar3σ 第二種（經驗法）： 注：當 LCL計算出來曾負數時，應改為 0。 Pchart 各組檢驗數相同 各組檢驗數相差較大 各組檢驗數相差不大 各組檢驗數不同 Happy: SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES b. 各組檢驗數不同： 第一種：各組檢驗數相差較大 ,最大檢驗數與最小檢驗數之間超過 20% CL = UCLi= LCLi= 其中： UCLi、 LCLi:表示對應第 I組數據的管制上、下限。 注：各點管制界限不一定相同。 第二種：各組檢驗數相差較小，低于 20%時 UCL= LCL = 注：各點管制界限默認近似相等。 〈例 6〉 Happy: SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 作出以每天為一點的不良率管制圖。P i = di * 100ni式中： P 表示不良率i 表示第幾組數據d 表示檢驗數n 表示不良數數據列表為：日期 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13批量數 12023 15000 10000 11000 11000 8000 18000 18000 11200 100 1000 12023 1000檢驗數 315 315 200 315 315 400 600 600 500 100 1000 315 80不良數 14 15 8 11 12 10 15 8 10 0 4 7 2某陶瓷電容廠，對2023年5月1日到5月13日這段時間，制一部二線白班生產345B0D的50000皮法的電容，其檢驗 數據為：日期 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13批量數 12023 15000 10000 11000 11000 8000 18000 18000 11200 100 1000 12023 1000檢驗數 315 315 200 315 315 400 600 600 500 100 1000 315 80不良數 14 15 8 11 12 10 15 8 10 0 4 7 2不良率% 4 2 0 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 說明： 當檢驗數認為相同時 SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 說明： 當檢驗數認為不同時 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES ： 1)當點已跑出管制界限 除了后面 7種狀況 ， 如點已跑出管制界限 ， 一般是指有特殊原因導致不良出現較大的變化 。 2）連續幾點在中心線上方或下方 這表明制程有偏移發生，如往上偏移，則表明不良率升高，如往下偏移則表明不良率下降。 Happy: SPC 應 用 技 術 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 3）連續幾點上升或下降 這表明制程有一種趨勢發生，分向上和向下兩種。向上則表明不良率升高，向下則表明不良率下降。 4）連續幾點互著一升一降 也表明是一種趨勢，分為變化幅度變大、變小、不變。幅度變大，則表明制程越來越不穩定；幅度變小，則表明制程越來越穩定；不變則表明制程已經是穩定的，但要注意是否較大、是否全體都在可接受范圍內，如否，則請采用系統問題的處理方式盡快處理。 Happy: 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 5）連續幾點在 3倍標準差以外 出現此狀況的原因一般為： ； ； ，而未采取措施或沒有監控； 此狀況分為三種形式： ①連續 3點在管制界限上方 。 ②連續 3點在管制界限下方 。 ③連續 3點在管制界限外，但不在同一側 。 Happy: 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES 6）連續幾點中有幾點在 2倍標準差以外 此狀況一般是用來表明一個狀態，一般表明制程不是很好，如有此狀況，則表明制程本身不是很好，要注意監控，一般為系統原因。 7）連續幾點中有幾點在中心線兩側之 1倍標準差以內 此狀況也是用來表明一個狀態，出現此狀況是一件好事，表明制程相對較穩定，如成本不是很高或不能接受，可以繼續保持 。 8）連續幾點在中心線兩側，但未在一倍標準差以內 此狀況也是用來表明一狀態，表明制程不算很好， 有一定的差異。 Happy: 上海企達企業管理咨詢有限公司 DIVES （ 六 ） NPchart不良數管制圖 ： 表示不合格品的實際數量而不是與樣本的比率 。 是對不良率管制圖的一個補充 。應用要求為檢驗數相同 。 一般應用在以下幾種狀況下： ① 在自動化程度較高 ， 人為因素相對較少 ， 對不良分析是以計 數為主； ② 當不良率相對較低時 ， 用 PPM不良率分析又較難時； ③ 各批檢驗數相同 ， 也可用不良數管制圖 。 ： ① 計算平均不良數 （ 管制中心線 ） np = CL =