舊qc七大手法培訓(文件)

　

【正文】 層別法是對查檢表所收集到的原始數據進行進一步分類的處理。 14 三、排列圖（柏拉圖） 根據 所 收 集的 數據 ，以不同 區 分 標準 加以整理、分 類 ， 計 算出各分 類 項目所 占 的比例 ，再按照 由高到低 的 順序 排列，再加上累 積 值 ，繪制成圖表。 2. 收集數據 的期 間 和 對 象必 須 一致。因為是針對特性，找到其要因，故因果圖也叫特性要因圖。 4. 決 定影 響問題點 的主要原因 （最終發現根本原因即影響最大的因素） 。2. 依據 各 種 可能影 響 原因 層別繪制 散 布圖 ，找出最 適 的要因。 出 縱軸與橫軸 刻度， 計 算 組 距。 X 1 2 3 → X → X → （ ） 正相關（強） （ ） 正相關（中度） （ ） 正相關（弱） ↑ Y ↑ Y ↑ Y 33 五、散布圖 X → X ↑ Y → (6)無相關 ↑ Y → X ↑ Y (5)無相關 (4)無相關 34 五、散布圖 (7）負相關（強） (8）負相關（中度） (9）負相關（弱） X → X → X → ↑ Y ↑ Y ↑ Y 35 五、散布圖 Y X Y X Y X Y X 0 0 0 0 散布圖示例 強正相關 弱正相關 強負相關 弱負相關 鍍層脫落 鍍件臟污 電流強度 電鍍時間 電流強度 電鍍燒焦 鍍液溫度 波美度 36 六、直方圖 直方圖：就是一種圖形。 37 六、直方圖 １： 收集數據 至少Ｎ﹦５０以上 ２： 決定組數（Ｋ） Ｎ 組數（Ｋ） ５０～１００ １００～２５０ ２５０以上 ６～１０ ７～１２ １０～２０ ３： 決定組距（Ｃ） (1) 求全距 Ｒ﹦ａ－ｂ ( 除去異常值 , 最大減最小 ） (2) 求組距 Ｃ﹦Ｒ247。 對該過程的綜合過程能力，既要準確度高，又要精密度高，所以要將兩者同時納入過程能力的描述，才可能是對過程能力的全面描述。 與上相反 或者，以上過程均被全檢過，偏小的或偏大的數據已被剔除 六、直方圖 46 雙峰型（二山型）： ； ，過程已被做了大的調整，如電流強度由小調大，電鍍時間由短變長。 六、直方圖 具體型態的問題具體分析，是直方圖在判讀時應特別注意的問題，否則可能得到錯誤的結果。 50 七、控制圖 ?過程 的結果就是產品。 51 七、控制圖 為了使過程的輸出滿足顧客的要求，我們要對輸出進行檢驗，對發現的不合格品進行報廢或返工，但這種做法是不經濟的。 52 七、控制圖 對過程的輸出（如車床車出的螺絲），每個輸出都是不一樣的。 造成過程變差的原因可分為兩種，一種是普通原因（系統原因、偶然因素），一種是特殊原因（局部問題、可查明原因）。 54 七、控制圖 特殊原因： 不是始終作用于過程的原因。一個管理好的企業，此類問題一般占 15%，若占 40%以上時，說明系統出現了嚴重的問題。 有些特殊原因造成的過程變差對輸出有好處，可對其進行標準化處理，或不予理采。 所以，我們講的過程控制是針對統計過程。 當出現特殊原因時，提供統計信號，以便采取措施；未出現特殊原因時，避免提供錯誤信號。 59 例如 ， UCL與 LCL控制線就是根據過程過去的結果所判明的制程能力制作的 ， 它延伸到以后 ， 我們只需將目前的品質特性按時間順序描上控制圖中 ， 就知道目前的過程有無變異 ， 另外從線條的趨勢可以判定以后近時段的品質達成狀況 。 七、控制圖 61 七、控制圖 （ 準確度的變化 ） 一個是各組數的組距控制圖 ： R圖 ， 即控制各組質量特性分布變異的變化 ， 即離散度的變化 。 — 連續 7點或以上向上行或向下行 。 七、控制圖 受控的圖型 A B C C B A UCL LCL CL 69 控制圖的判讀 二 、 非受狀態下的控制圖 。 。 ） 。因此，一個受控過程并不是圖上無任何失控之處的過程，如果一張控制圖從無失控點，我們應嚴肅查問該操作本身是否“受控”。 時間的長短可能與子組容量有矛盾 。 七、控制圖 77 P控制圖中有關數據的計算： 每個批次不良率 P的計算 : P=每組不良數 /檢驗數 平均不良的計算 : P =∑Pi/k k為組數 上下控制線的計算方法 ， 按不同的子組容量 n可有下列兩種情況： 七、控制圖 78 控制線的計算 : 中心線 : CL = P =Pbar 在子組容量相同或相差不大 (20%以內 )時 : UCL = P + 3√Pbar*( 1Pbar)/n LCL = P 3√Pbar*( 1Pbar)/n n為任一子組的容量 ,這時上下控制線為直線或近似為直線 。 通常 ， 當過程受控時 ， 將有三分之二的點落在均值附近三分之一的區域內 ， 有三分之一的點落在均值外三分之二的區域內 ， 有大約 1/20的點落在控制線附近 。 。 七、控制圖 86 控制圖的判讀 控制圖發出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 發生了計算或描點錯誤； 取樣分層造成子組包含二個或多個不同均值的數據 。 七、控制圖 88 七、控制圖 89 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 七、控制圖 87 控制圖的判讀 控制圖發出的以下信號表明過程不受控 ， 有特殊原因存在： ： 發生了計算或描點錯誤； 過程或取樣方法造成連續的子組包含來自兩個或多個具有不同均值的數據 。 。 ： 除控制限或描點錯誤 、 測量系統改變的可能外 ， 可能是過程得到改進 ， 應研究這種改進并長期保持 。 83 控制圖的判讀 因為是不良率控制圖 ， 所以對過程輸出來說 ， 描點越低越好 、越接近于零越好；鏈越下降越好；均值下的鏈越長越好；均值下的點越多越好 。 我們在描點時 ， 需計算每一子組的上下控制線 ， 只須將該子組的 P與該子組的上下線比較即可 。 k：一般應是收集數據的時間要足夠長 ， 使得能找到所有可能的影響過程的變差源 。 75 B、 PChart控制圖：不良率控制圖 利用控制圖的原理 ,對制程中的不良率進行控制 ,是 SPC中計數值最常用的分析圖形之一 . 用途 : 對突發事件 (特殊原因 )的影響程度及時了解 . 預測下一階段的不良率 . 七、控制圖 76 數據收集的要求： n：一般要求較大的子組容量 ， 例如 50到 200或者更多 ，即每個子組內應包括幾個不合格品 ， 如 5個 。 七、控制圖 UCL CL LCL 73 控制圖的判讀 二 、 非受狀態下的控制圖 說明： 過