spc培訓教材(ppt 136頁)-預覽頁

　

【正文】 ..) 做解析用控制圖，了解正常變異范圍 制程穩定，控制界限延用 現場繪圖、點圖、判圖、糾異 持續改進、縮小變異 15 SPC原理 收集數據 一開始要多收 集數據以了解 制程狀況 解析數據 了解其正常波 動的范圍 控制用圖形 運用控制限來 判定制程是否 異常 16 16 正確應用 SPC的 7項重要概念 (一 ) SPC重要概念 1 ： 把客戶需求轉換成質量特性為應用 SPC的第一要務 . 17 17 (二 ) SPC重要概念 2： 應把焦點集中在如何利用控制制程參數，以使制程維持在穩定狀態，并且使其具備足夠符合質量規格之能力 18 18 (三 ) SPC重要概念 3： 應利用適當之管制圖，以判斷制程是否持續維持在穩定狀態 (四 ) SPC重要概念 4： 不可忽視量測系統之重要性 (五 ) SPC重要概念 5： 制程不穩定的三大可能原因 1. 未適當層別 2. 迷信反饋控制 (即過度調整 ) 3. 原物料不穩定 19 19 (六 ) SPC重要概念 6： 光有穩定的制程是不夠的 ，你的制程必須還要具備足夠符合質量規格之能力 (七 ) SPC重要概念 7： 你可能會遇到的兩種問題：由管制圖中判讀出有偶發性的異常現象發生及制程能力不足 ， 解決這兩種問題的方法完全不同 20 控制圖種類 (以數據來分 ) 計量值控制圖 平均值與全距控制圖 平均值與標準差控制圖 中位值與全距控制圖 個別值與移動全距控制圖 計數值控制圖 不良率控制圖 不良數控制圖 缺點數控制圖 單位缺點控制圖 21 “ n”=10~25 控制圖的選定 資料性質 不良數或 缺陷數 單位大小 是否一定 “ n”是否一定 樣本大小 n≧ 2 Cl的性質 “n”是否較大 “u” 圖 “c” 圖 “np” 圖 “p” 圖 XRm 圖 XR 圖 XR 圖 Xs 圖 計數值 計量值 “n”=1 n≧ 2 中位數 平均值 “ n”=2~5 缺陷數 不良數 不一定 一定 一定 不一定 控制圖的選擇 22 CASE STUDY 質量特性 樣本數 選用什么圖 長度 5 重量 10 乙醇比重 1 電燈亮／不亮 100 每一百平方米的臟點 100平方米 23 控制圖所用的統計原理 計量型 XbarR Xbars X中位數 R XRm 正態分布 計數型 P np 二項分布 計數型 C u 卜氏分布 24 搜集數據 繪解析用控制圖 是否穩定 繪直方圖 是否滿足規格 控制用控制圖 尋找異常原因 檢討機械、設備 提升制程能力 控制圖的繪制流程 25 控制圖種類 (依用途來分 ) 解析用控制圖 決定方針用 制程解析用 制程能力研究用 制程管制準備用 解析用 穩定 控制用 管制用控制圖 追查不正常原因 迅速消除此項原因 并且研究采取防止此項原因重復發生之措施 26 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態分布概率 27 中央極限定理 ),(2??N 24 )4,( ,4,2????????xmeanitNthennwhen39 )9,( ,9,2????????xmeanitNthennwhen28 為何樣本數不同時控制限不同 主要原因就是因為中央極限定理，自中央極限定理來看，樣本愈多時，其控制限愈狹窄。 可以有效判定組內變異和組間變異。 41 控制圖示意說明 初期的二十五點 計算時有些超出 控制界限，此時 須尋找原因。 總變異 =組內變異 +組間變異。如果子組樣本容量為偶數，中位數是中間兩個數的均值。 由于每一子組僅有一個單值，所以平均值和標準差會有較大的變性，直到子組數達到 100個以上。 管制圖mRX ?79 mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422全距管制圖值 管制圖~????????管制圖mRX ??B計算控制限 80 管制圖mRX ?C過程控制解釋 審查移動極差圖中超出控制限的點，這是存在特殊原因的信號。但是這需要注意，如果過程分布不是對稱，用前面所述的用于 X圖的規則來解釋時，可能會給出實際上不存在的特殊原因的信號。時間隔短則反饋快，但也許與大的子組容量的要求矛盾 子組數量：要大于等于 25組以上，才能判定其穩定性。 當點描完后，粗覽一遍看看它們是否合理，如果任意一點比別的高出或低出許多，檢查計算是否正確。 盡量讓樣本數一致，如果樣本數一直在變化則會如下圖： 100 200 300 100 200 100 100 200 300 100 1 2 1 2 1 2 1 2 3 2 94 1 098765432100 . 0 40 . 0 30 . 0 20 . 0 10 . 0 0S a m p l e N u m b e rProportionP C h a r t f o r C 2P = 0 . 0 1 0 0 03 . 0 S L = 0 . 0 3 9 8 5 3 . 0 S L = 0 . 0 0 095 判讀 : 96 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數據點，找出不穩定證據 C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計算控制界限 超出控制限的點 鏈 明顯的非隨機圖形 建立 p圖的步驟 C 97 分析數據點，找出不穩定的證據 點 線 面 以上三種方式做判定。可利用諸如排列圖和因果分析圖等解決性問題數據。 101 收集數據 繪圖及計算 控制限 是否異常 延伸控制限 N 找出異常點原因 并提出相應措施 制程有變化 人機料法環測量 Y 控制限運用說明 102 Ｄ過程能力解釋 D1計算過程能力 D2評價過程能力 D3改進過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 103 過程能力解釋 偶因和異因并存 找出異因 只剩偶因 運用控制圖 過程穩定 (連 25點不超限 ) 計算過程能力 104 計算過程能力 對于 p圖，過程能力是通過過程平均不合格率來表，當所有點都受控后才計算該值。這些連續的受控的時期子組的 p值是該過程當前能力的更好的估計值。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格的原因。這個變化時期對系統操作會是破壞性，可能造成新的控制問題，掩蓋系統變化后的真實效果。但是還應對繼續系統進行調查和改進。“ np”圖的詳細說明與 p圖很相似，不同之處如下： 111 A收集數據 受檢驗樣本的容量必須相等。 112 B計算控制限 )1()1(3)1(3.....21ppnppnpnLCLppnpnUCLkddpnCLknpnpnppnnpnpnpnpk?????????????????113 過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋：同“ p”圖的解釋。 121 Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “c” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “ c” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “ c” 0 1 2 0 1 每一組的樣本數都是固定為 100。“ u”圖的繪制和“ p”圖相似，不同之處如下： 124 A收集數據 各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量保持在其平均值的正負25%以內可以簡化控制限的計算。此過程圖版本受控并準確。 4 Implement SPC for defects from yield failures 實施來自不良率的缺點的統計制程控制 Supplier has developed C or U charts and established a Pareto of defect categories. This Pareto is updated on a regular basis. 供應商已經展開 C圖或 U圖并建立缺陷種類的柏拉圖。 131 131 6 Identify Critical Parameters 識別關鍵參數 Based on Cause and Effect Analysis and inputs from Engineering department, critical processes and parameters are identified and listed with specification limits for variables. 根據原因和后果分析和工程部的輸入，關鍵過程和參數被確認并列出變量的規格界