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材料分析方法作業一(編輯修改稿)

2025-08-30 04:53 本頁面

　

【文章內容簡介】在相平面上形成能反映晶面間距大小和晶面方向的條紋像，即晶格條紋像晶格分辨率與點分辨率是不同的，點分辨率就是實際分辨率，晶格分辨率的晶格條紋像是因位相差引起的干涉條紋，實際是晶面間距的比例圖像。晶格分辨率更高。1. 復型樣品在透鏡電鏡下的襯度是如何形成的？襯度是指在熒光屏或照片底片上，眼睛能觀察到的光強度或感光度的差別。1）所謂小孔徑角成像是指在物鏡背焦平面上沿徑向插入一個小孔徑的物鏡光闌，擋住散射角大于α的電子，只允許散射角小于α的電子通過物鏡光闌參與成像，而圖像的襯度就取決于透過物鏡光闌投影到熒光屏或照相底片上不同區域的電子強度差別。2）質厚襯度原理是建立在非晶體樣品中原子對入射電子的散射和衍射電子顯微鏡小孔徑角成像基礎上的成像原理，是是解釋非晶態樣品電子顯微圖像襯度的理論依據。補充：（掌握）質厚襯度原理：非晶（復型）樣品電子顯微圖像襯度是由于樣品不同微區間存在原子序數或厚度的差異而形成的，即質厚襯度。它是建立在非晶樣品中原子對電子的散射和透射電子顯微鏡小孔徑成像的基礎上的。質厚襯度的成像原理見下圖。2. 說明如何用透射電鏡觀察超細粉末的尺寸和形態？如何制備樣品？關鍵工作是粉末樣品的制備，樣品制備的關鍵是如何將超細粉的顆粒分散開來，各自獨立而不團聚。制備樣品：方法主要包括膠粉混合法和支持膜分散粉末法。P133分析電子衍射與X衍射有何異同？相同：①原理相似，以滿足（或基本滿足）布拉格方程作為產生衍射的必要條件②兩種衍射技術所得到的衍射花樣在幾何特征上也大致相似。不同：①電子波波長比X射線短得多，在同樣滿足布拉格條件時，它的衍射角很小，約為，X射線衍射角最大可接近②進行電子衍射操作時采用薄晶樣品，薄樣品的倒易陣點會沿著樣品厚度方向延伸成桿狀，因此，增加了倒易陣點和埃瓦爾德球相交截的機會，結果使略為偏離布拉格條件的電子束也能發生衍射。③因為電子波波長短，可以認為電子衍射產生的衍射斑點大致分布在一個二維倒易截面內。④原子對電子的散射能力遠高于它對X射線的散射能力（約高出四個數量級），故電子衍射束的強度較大，攝取衍射花樣時曝光時間僅需數秒鐘。2．倒易點陣與正點陣之間的關系如何？倒易點陣與電子衍射斑點之間有何對應關系？倒易點陣與正點陣之間的關系：①正倒點陣異名基矢點乘為0，同名基矢點乘為1，即②倒易矢量垂直于正點陣中相應的（h，k，l）晶面，或平行于它的法向；倒易點陣中的一個點代表的是正點陣中的一組晶面。③倒易矢量的長度等于正點陣中相應晶面間距的倒數，即④對正交點陣，有,,⑤只有在立方點陣中，晶面法向和同指數的晶向是重合（平行）的。即倒易矢量是與相應的指數的晶[hkl]平行的。倒易點陣與電子衍射斑點之間的對應關系：電子衍射斑點就是與晶體相對應的倒易點陣中某一截面上陣點排列的像。以O為中心，為半徑作一個球，入射波矢量為。此時若有倒易陣點G（指數為hkl）正好落在愛瓦爾德球的球面上，則相應的晶面組（hkl）與入射束方向比滿足布拉格條件，而衍射束方向即，或者寫成波矢量為

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